CHY-CU薄膜厚度測定儀測試原理

機械接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測量頭自動降落于試樣之上，在一定壓力和一定接觸面積下測試出試樣的厚度值。

CHY-CU薄膜厚度測定儀產(chǎn)品配置

標準配置：主機、標準量塊一件、微型打印機

選購件：專業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼

CHY-CU薄膜厚度測定儀產(chǎn)品特征

• PLC控制，人機界面操作，穩(wěn)定，準確，簡單，直觀
• 嚴格按照標準設(shè)計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制
• 測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
• 實時顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標準偏差等分析數(shù)據(jù)
• 系統(tǒng)支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、儲存、打印等許多實用功能
• 主機程序可按照要求定制
• 微型打印機方便測試結(jié)果快捷輸出
• 標準的RS232接口，專業(yè)軟件（可選）

  CHY-CU薄膜厚度測定儀測試應(yīng)用

  薄膜、薄片、隔膜、紙張、紙板、箔片、硅片、金屬片等材料的測試

  CHY-CU薄膜厚度測定儀技術(shù)參數(shù)

  測試范圍 0～2 mm（標配）

  分辨率   0.1 μm

  測量速度 10 次/min （可調(diào)）

  測量壓力  0.3N

  測量頭   弧面曲率半徑15mm

  尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)

  重量：35kg

  CHY-CU薄膜厚度測定儀測試標準

  該設(shè)備滿足多項國家和標準：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983, BS 4817、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547